必威娱乐网址 |太阳能电池片洁净检测测量二-betway必

 

  betway必威登陆平台      betway必威都有什么      中文      English

 
        技术资讯
清洗与洁净技术
半导体技术
光伏太阳能技术
平板显示技术
检测与测量相关
 
检测与测量相关   您现在的位置:华林科纳>>新闻中心>>检测与测量相关
 
太阳能电池片洁净检测测量二
 

 

Table 2. Most Common Analytical Methods
2.常用分析方法

Feature特性

AES/SAM

奥格电子光谱学/扫描奥格电子显微镜

EDX/WDX能量色散X-射线分析/波长色散X-射线分析

ESCA (XPS)电子频谱化学分析

DYNAMIC  SIMS动态二级粒子质谱分析

STATIC SIMS静态二级粒子质谱分析

Depth Profiling深度轮廓

 琰茞Ü

 琰茞Ü

 琰茞Ü

 琰茞Ü

 琰茞Ü

            Bulk主体 (>10 Microns微米)

Yes

No

Yes

Yes

Yes

            Near Surface近表面 (<2 Microns微米)  

No

Yes

No

No

No

Depth Profiling深度轮廓

Yes

No

Yes

Yes

No

Identify Interfaces表面鉴别

Yes

Some部分

Yes

Yes

No

Quantitative Measurement定量检测

Yes

Yes

Yes

Yes

No

Elemental元素

Yes

Yes

Yes

Yes

Some部分

Chemical化学药剂

Some部分

No

Yes

Some部分

Yes

Identifies Organic Species有机种类辨别

No

No

Yes

No

Some部分

Identifies Inorganic Species无机种类辨别

Yes

Yes

Yes

Yes

Some部分

Area Inspected检测区域

Small

Small

Small

Small

Small

Limitations局限

Slow

Slow

Slow

Slow

Slow

 琰茞Ü

Expensive昂贵

Expensive昂贵

Expensive昂贵

Expensive昂贵

Expensive昂贵

 琰茞Ü

High Skill Level高技术水平

High Skill Level高技术水平

High Skill Level高技术水平

High Skill Level高技术水平

High Skill Level高技术水平

Source: Problem Solving SURFACE ANALYSIS Techniques, Robert D. Cormia; Advanced Materials & Processes 12/92

来源:表面分析技术问题解决, Robert D. Cormia; 高级材质和工艺12/92

 

Feature特性

TOF SIMS    TOF静态二级粒子质谱分析

FTIR傅里叶变换红外光谱学

ATR -FTIR衰减全反射比傅立叶变换红外光谱分析

RS拉曼光谱分析

XRF 射线荧光分析

Depth Profiling深度轮廓

 琰茞Ü

 琰茞Ü

 琰茞Ü

 琰茞Ü

 琰茞Ü

            Bulk主体 (>10 Microns微米)

Yes

No

No

No

Some部分

            Near Surface近表面 (<2 Microns微米)  

Some部分

Yes

Yes

Yes

Yes

Depth Profiling深度轮廓

Yes

No

No

No

No

Identify Interfaces表面鉴别

Yes

Yes

Yes

Yes

Some部分

Quantitative Measurement定量检测

With Standards按标准

Yes

Yes

Yes

Yes

Elemental元素

Yes

No

No

No

Yes

Chemical化学药剂

Yes

Yes

Yes

Yes

No

Identifies Organic Species有机种类辨别

Yes

Yes

Yes

Yes

No

Identifies Inorganic Species无机种类辨别

Yes

Some部分

Some部分

No

Yes

Area Inspected检测区域

Small

Small

Small

Small

Small

Limitations局限

Slow

Slow

Slow

Slow

Slow

 琰茞Ü

Expensive昂贵

Expensive昂贵

Expensive昂贵

Expensive昂贵

Expensive昂贵

 琰茞Ü

High Skill Level高技术水平

High Skill Level高技术水平

High Skill Level高技术水平

High Skill Level高技术水平

High Skill Level高技术水平

Source: Problem Solving SURFACE ANALYSIS Techniques, Robert D. Cormia; Advanced Materials & Processes 12/92

来源:表面分析技术问题解决, Robert D. Cormia; 高级材质和工艺12/92

 
地址:江苏苏州园区启月街288号 电话:18915583058 传真:86-512-62790585 邮编:215122
Copyright©betway必威官方.betway必威官方旗下产品有LED半导体商城集成电路芯片,MEMS半导体设备LED/材料/MEMS服务,公司的半导体设备LED太阳能光伏 LED照明 MEMS相关产品等......
友情链接:   |    |    |    |     |    |    |